국방대학교 도서관검색
- Home
- 기능목록
- 검색
-
Marc 보기
MARC 닫기
-
LDR
00674nam ac200217 k 4500
-
001
000003860291
-
005
20050316140000
-
008
050316s2004 ulk 000 kor
-
040
▼a 123456
▼c 123456 -
049
▼l EM22136
▼v 2004-0-7 -
056
▼a 568.08
-
090
▼a 568.08
▼b 전963ㅇ
▼c 2004-0-7 -
100
▼a 전파연구소
-
245
▼a 고출력 과도전자파 발생에 따른 정보기기 보호기술에 관한 연구/
▼d 전파연구소;
▼e 박건식;
▼e 박수용. -
260
▼a 서울:
▼b 전파연구소/서울대학교,
▼c 2004. -
300
▼a 89p.;
▼c 26cm. -
440
▼a 연구보고서;
▼v 2004-0-7 -
653
▼a 고출력 과도전자파
▼a 정보기기 보호기술
▼a HPEM
▼a 디지털무선 정보기기
▼a 주파수대역 -
700
▼a 박건식
-
700
▼a 박수용
-
950
▼a 비매품
-
991
▼a 단행본
-
LDR
- 바구니담기
- 내서재 담기
- 내보내기
상세정보
고출력 과도전자파 발생에 따른 정보기기 보호기술에 관한 연구
QR코드예약
- 1. 예약현황은 홈페이지 로그인 후 예약 페이지에 확인 가능합니다.
- 2. 도착 통보된 예약자료 대출을 원하지 않는 경우에는 예약 현황에서 취소할 수 있습니다.
- 3. 기타 문의사항은 도서관에 문의 바랍니다.
무인예약대출
- 1. 무인예약대출 현황은 홈페이지 로그인 후 무인예약대출 페이지에 확인 가능합니다.
- 2. 무인예약대출자료 대출을 원하지 않는 경우에는 무인예약대출 페이지에서 신청 또는 접수상태인 경우만 취소할 수 있습니다.
- 3. 희망대출일은 신청일로부터 최대 1주일 까지 가능합니다.
- 4. 희망대출일을 선택하지 않은 경우 대출대기 통보 후 1주일까지 기기에서 대출가능합니다.
- 5. 기타 문의사항은 도서관에 문의 바랍니다.
제1장 연구배경 및 목표
1. 연구배경
2. 연구 목표
제2장 HPEM 발생장치의 기술개발 현황
1. HPEM 환경
2. HPEM 발생장치의 종류 및 특성
3. HPEM 발생장치의 연구동향
제3장 HPEM의 Target에 대한 영향
1. Threshoold Power의 이론적 모델
2. 반도체에 미치는 영향
3. Destruction에 관한 예
제4장 HPEM Test의 예
1. HPEM Test on PCs
2. 각종 전자기기가 일으키는 장애
3. Susceptibility Threshold Test
제5장 모의실험
1. 실험목표 및 내용
2. 실험실 보유장비
3. 실험계획
4. 실험장치 구성
5. HPEM 모의 실험
제6장 결론
제7장 참고문헌
4G LTE/LTE-A 이동통신시스템
568.52 데569ㅍ
(증강현실과 가상현실의) 디스플레이 기초 = Introduction to augmented reality and virtual reality displays
569.81 박583ㄷ
전기전자공학의 기초
560 김728ㅈ
무선 및 이동통신
568 애743ㅁ김 2013
서평쓰기