| 자료유형 : |
기사 |
| 기사명 : |
Interaction of Interface-Traps Located at Various Sites in MOSFETs Under Stress |
| 저자 : |
Chen, G.|Li, M.F. |
| 발행사항 : |
IEEE Reliability Society :
New York
, 2002
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| 수록잡지명 : |
IEEE Transactions on Reliability[1976-2010] : 2002. December Vol.51 No.4 |
| 페이지 : |
387 |
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