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상세정보
MICROELECTRONIC MANUFACTURING YIELD RELIABILITY AND FAILURE ANALYSIS
QR코드| 자료유형 : | 단행본 |
|---|---|
| ISBN : | 0819426482 |
| 분류기호 : | TK7874 |
| 서명/저자사항 : | MICROELECTRONIC MANUFACTURING YIELD RELIABILITY AND FAILURE ANALYSIS/ MILLHOLLON,MARY; O'LOUGHLIN,LUANNE; ZUCCARINI,TONI |
| 발행사항 : | WASHINGTON: SPIE, 1997. |
| 형태사항 : | 198p. |
| 총서사항 : | PROCEEDINGS OF SPIE 3216 |
| 개인저자 : | MILLHOLLON,MARY |
| 개인저자 : | O'LOUGHLIN,LUANNE |
| 개인저자 : | ZUCCARINI,TONI |
| 언어 | 영어 |
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- 5. 기타 문의사항은 도서관에 문의 바랍니다.
WMO199931341
권 호 : 198
발행년 : 1997
서 명 : MICROELECTRONIC MANUFACTURING YIELD RELIABILITY AND FAILURE ANALYSIS
발행처 : MILLHOLLON,MARY
목차
1. DEVICE RELIABILITY,FAILURE MECHANISMS,AND ANALYSIS I
2. DEVICE RELIABILITY,FAILURE MECHANISMS,AND ANALYSIS II
3. DESIGN FOR RELIABILITY
4. YIELD AND INLINE MONITORING
5. YIELD MODELING AND STATISTICS I
6. YIELD MODELING AND STATISTICS II
7. YIELD MODELING AND STATISTICS III
8. POSTER SESSION
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