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상세정보
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
QR코드| 자료유형 : | 단행본 |
|---|---|
| ISBN : | 0792391659 |
| 분류기호 : | TK7868.L6 |
| 개인저자 : | Chakradhar,Srimat T. |
| 서명/저자사항 : | Neural Models and Algorithms for Digital Testing/ Chakradhar,Srimat T; Agrawal,Vishwani D; Bushnell,Michael L |
| 발행사항 : | Boston: Kluwer Academic Pub., 1991. |
| 형태사항 : | 184p.; 23cm. |
| 개인저자 : | Vishwani D,Agrawal |
| 개인저자 : | Michael L ,Bushnell |
| 언어 | 영어 |
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WMO200400788
권 호 : 184p.
발행년 : 1991
발행처 : Kluwer Academic Pub.
서 명 : Neural Models and Algorithms for Digital Testing
목차
1. Introduction
2. Logic Circuits and Testing
3. Parallel Processing Preliminaries
4. Introduction to Neural Networks
5. Neural Modeling for Digital Circuits
6. Test Generation Reformulated
7. Simulated Neural Networks
8. Neural Computers
9. Quardratic 0-1 Programming
10. Transitive Closure and Testing
11. Polynomial-Time Testability
12. Special Cases of Hard Problems
13. Solving Graph Problems
14. Open Problems
15. Conclusion
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