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▼a Accelerated life testing
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▼a 단행본
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상세정보
Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
QR코드| 자료유형 : | 단행본 |
|---|---|
| ISBN : | 1584884711 |
| 분류기호 : | TA169.3 |
| 개인저자 : | LuValle,Michael J |
| 서명/저자사항 : | Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability/ LuValle,Michael J; Lefevra,Bruce G; Kannan,SriRaman |
| 발행사항 : | Boca Raton: CRC Press, 2004. |
| 형태사항 : | 236p.; 25cm. |
| 개인저자 : | Bruce G,Lefevra |
| 개인저자 : | SriRaman,Kannan |
| 언어 | 영어 |
예약
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1. Background
2. Demarcation Mapping : Initial Design of Accelerated Tests
3. Interface for Building Kinetic Models
4. Evanescent Process Mapping
5. Data Analysis for Failure Time Data
6. Data Analysis for Degradation Data
References
Appendix : Installing the Software
Index
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