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Detailed Information
Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
QR Code| Data Type : | 단행본 |
|---|---|
| ISBN : | 0471790206 |
| Class No. : | 535.33 |
| Personal Author : | Siegel, Benjamin M. |
| Title/Author : | Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis/ edited by Benjamin M. Siegel and D. R. Beaman. |
| Imprint : | New York: Wiley, 1975. |
| Format : | xiii, 474 p.: ill.; 26 cm. |
| General Notes : | Expanded versions of papers presented at the joint meetings of the Electron Microscopy Society of America and the Microbeam Analysis Society, held in New Orleans, Aug. 14-17, 1973. |
| General Notes : | "A Wiley biomedical-health publication." |
| Note : | Includes bibliographical references and index. |
| General Subject Name : | Electron microscopy. -- |
| General Subject Name : | Microprobe analysis. -- |
| General Subject Name : | Microchemistry. -- |
| General Subject Name : | Electron Probe Microanalysis -- |
| General Subject Name : | Microscopy, Electron -- |
| Personal Author : | Beaman, Donald Robert, |
| Organization Author : | Electron Microscopy Society of America. |
| Organization Author : | Microbeam Analysis Society. |
| Class No. : | 535.33 |
| Language | English |
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