MARC 닫기

• LDR

  00953nam a2200241 u 4500

• 001

  000000355025

• 005

  20120928042047

• 008

  010423s1999 gw a b 001 eng

• 010

  ▼a  98046724 //r99

• 020

  ▼a  3540651829 (alk. paper)

• 022

  ▼a  0081-3869

• 049

  ▼a  KMAL
  ▼l  AZ0000203446

• 082

  ▼a  530.4275
  ▼2  21

• 090

  ▼a  530.4275
  ▼b  T58x

• 245

  ▼a  X-ray scattering from soft-matter thin films:
  ▼b  materials science and basic research/
  ▼d  Metin Tolan.

• 260

  ▼a  Berlin;.
  ▼a  New York:
  ▼b  Springer,
  ▼c  c1999.

• 300

  ▼a  viii, 197 p.:
  ▼b  ill.;
  ▼c  24 cm.

• 440

  ▼a  Springer tracts in modern physics;,
  ▼s  0081-3869;
  ▼v  148

• 504

  ▼a  Includes bibliographical references (p. [179]-191) and index.

• 650

  ▼a  Thin films, Multilayered
  ▼x  Scattering.

• 650

  ▼a  X-rays
  ▼x  Scattering.

• 653

  ▼a  XRAY
  ▼a  SCATTERING
  ▼a  FROM
  ▼a  SOFTMATTER
  ▼a  THIN
  ▼a  FILMS
  ▼a  MATERIALS
  ▼a  SCIENCE
  ▼a  AND
  ▼a  BASIC
  ▼a  RESEARCH
  ▼a  SPRINGER
  ▼a  TRACTS
  ▼a  IN
  ▼a  MODERN
  ▼a  PHYSICS

• 700

  ▼a  Tolan, Metin,
  ▼d  1965-,

• 991

  ▼a  단행본

• 090

  ▼a  530.4275
  ▼b  T58x