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▼a 569.4
▼a 조길호.
▼a RF Magnetron Sputtering법을 이용한 Al_2 O_3 박막의 성장과 후속 열처리 조건에 따른 특성 분석=
▼x Growth of A1Al_2 O_3 thin film by RF magnetron sputtering method and study of characteristics of the thin film with annealing condition/
▼d 조길호 책임연구;
▼e 김용신;
▼e 지상희;
▼e 육군사관학교 화랑대연구소.
▼a 서울:
▼b 육군사관학교 화랑대연구소,
▼c 2000.
▼a 64. p:
▼b 삽도;
▼c 26cm.
▼a 김용신
▼a 지상희
▼a 육군사관학교 화랑대연구소.
▼a 단행본
▼a 621.38
▼b 조18r
| 자료유형 : | 단행본 |
|---|---|
| 개인저자 : | 조길호. |
| 서명/저자사항 : | RF Magnetron Sputtering법을 이용한 Al_2 O_3 박막의 성장과 후속 열처리 조건에 따른 특성 분석= Growth of A1Al_2 O_3 thin film by RF magnetron sputtering method and study of characteristics of the thin film with annealing condition/ 조길호 책임연구; 김용신; 지상희; 육군사관학교 화랑대연구소. |
| 발행사항 : | 서울: 육군사관학교 화랑대연구소, 2000. |
| 형태사항 : | 64. p: 삽도; 26cm. |
| 개인저자 : | 김용신 |
| 개인저자 : | 지상희 |
| 단체저자명 : | 육군사관학교 화랑대연구소. |
| 분류기호 : | 621.38 |
| 언어 | 한국어 |
The ASQ certified reliability engineer handbook / Fourth edition
620.00452 H87a4
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