MARC 닫기

• LDR

  01043nam a2200241 u 4500

• 001

  000000365737

• 005

  20120928041023

• 008

  010403s1997 us a b 101 eng

• 010

  ▼a  97006020

• 020

  ▼a  1558993460

• 040

  ▼a  247017
  ▼c  247017

• 049

  ▼a  KMAL
  ▼l  AZ0000202856
  ▼v  2

• 082

  ▼a  621.38152
  ▼2  21

• 090

  ▼a  621.38152
  ▼b  D36d

• 245

  ▼a  Defects in electronic materials:
  ▼b  synposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..
  ▼n  II/
  ▼d  editors, Jurgen Michel ... [et al.].

• 260

  ▼a  Pittsburgh, Penn:
  ▼b  Materials Research Society,
  ▼c  c1997.

• 300

  ▼a  xvii, 711 p.:
  ▼b  ill.;
  ▼c  24 cm.

• 440

  ▼a  Materials Research Society symposium proceedings,
  ▼s  0272-9172;
  ▼v  v. 442

• 504

  ▼a  Includes bibliographical references and indexes.

• 650

  ▼a  Electronics
  ▼x  Materials
  ▼x  Defects
  ▼x  Congresses.

• 650

  ▼a  Semiconductors
  ▼x  Defects
  ▼x  Congresses.

• 653

  ▼a  DEFECTS
  ▼a  IN
  ▼a  ELECTRONIC
  ▼a  MATERIALS
  ▼a  SYNPOSIUM
  ▼a  HELD
  ▼a  DECEMBER
  ▼a  26
  ▼a  1996
  ▼a  BOSTON
  ▼a  MASSACHUSETTS
  ▼a  USA
  ▼a  RESEARCH
  ▼a  SOCIETY
  ▼a  SYMPOSIUM
  ▼a  PROCEEDINGS

• 700

  ▼a  Michel, Jurgen,

• 991

  ▼a  단행본

• 090

  ▼a  621.38152
  ▼b  D36d