MARC 닫기

• LDR

  01032nam ac200277 k 4500

• 001

  000000397423

• 005

  20220617144203

• 007

  ta

• 008

  961025s1994 tjka 000 kor

• 040

  ▼a  111314
  ▼c  111314
  ▼d  111314

• 049

  ▼a  KMAL
  ▼l  AZ0000159887

• 082

  ▼a  620.16
  ▼2  19

• 090

  ▼a  620.16
  ▼b  포91ㅌ

• 245

  ▼a  TEM에 의한 표면/계면의 특성분석에 관한 연구=
  ▼x  Characterization of surface/interface by transmission electron microscopy:
  ▼b  2차년도 결과 보고서/
  ▼d  국방과학연구소 [편].

• 260

  ▼a  [대전]:
  ▼b  국방과학연구소,
  ▼c  1994.

• 300

  ▼a  163p.:
  ▼b  삽도;
  ▼c  30cm.

• 440

  ▼a  ATRC;
  ▼v  411-93819.

• 500

  ▼a  연구기관 : 포항공과대학

• 504

  ▼a  참고문헌 : p.161-162

• 653

  ▼a  TEM에
  ▼a  의한
  ▼a  표면계면
  ▼a  특성분석에
  ▼a  관한
  ▼a  연구
  ▼a  2차년도
  ▼a  결과
  ▼a  보고서
  ▼a  CHARACTERIZATION
  ▼a  OF
  ▼a  SURFACEINTERFACE
  ▼a  BY
  ▼a  TRANSMISSION
  ▼a  ELECTRON
  ▼a  MICROSCOPY
  ▼a  ATRC
  ▼a  티이엠에

• 700

  ▼a  박찬경

• 710

  ▼a  포항공과대학,
  ▼e  연구.

• 710

  ▼a  국방과학연구소,
  ▼e  편.

• 940

  ▼a  티이엠에 의한 표면/계면의 특성분석에 관한 연구

• 950

  ▼a  가격불명

• 990

  ▼a  FUTURE

• 991

  ▼a  단행본