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▼a Voldman, Steven H.
▼a ESD :
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▼a Electrostatic discharge
▼a Chichester, West Sussex, U.K. ;.
▼a Hoboken, N.J..:
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▼c c2009.
▼a xxiv, 384 p.:
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▼a Includes bibliographical references and index.
▼a Semiconductors
▼x Failures.
▼a Integrated circuits
▼x Protection.
▼a Integrated circuits
▼x Testing.
▼a Integrated circuits
▼x Reliability.
▼a Electric discharges.
▼a Electrostatics.
▼b $150
▼a FUTURE
▼a 단행본
| 자료유형 : | 단행본 |
|---|---|
| ISBN : | 9780470511374 (cloth) |
| 분류기호 : | 621.381 |
| 개인저자 : | Voldman, Steven H. |
| 서명/저자사항 : | ESD : failure mechanisms and models / [by] Steven H. Voldman. |
| 발행사항 : | Chichester, West Sussex, U.K. ;. Hoboken, N.J..: Jhon Wiley & Sons, c2009. |
| 형태사항 : | xxiv, 384 p.: ill.; 25 cm. |
| 서지주기 : | Includes bibliographical references and index. |
| 일반주제명 : | Semiconductors -- Failures. -- |
| 일반주제명 : | Integrated circuits -- Protection. -- |
| 일반주제명 : | Integrated circuits -- Testing. -- |
| 일반주제명 : | Integrated circuits -- Reliability. -- |
| 일반주제명 : | Electric discharges. -- |
| 일반주제명 : | Electrostatics. -- |
| 언어 | 영어 |
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