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▼a Khare, Jitendra B.
▼a From contamination to defects, faults and yield loss:
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▼a 단행본
| 자료유형 : | 단행본 |
|---|---|
| ISBN : | 0792397142: |
| 분류기호 : | 621.38152 |
| 개인저자 : | Khare, Jitendra B. |
| 서명/저자사항 : | From contamination to defects, faults and yield loss: simulation and applications/ by Jitendra B. Khare; Wojciech Maly. |
| 발행사항 : | Boston: Kluwer academic, 1996. |
| 형태사항 : | 150p.: illus.; 24cm. |
| 총서사항 : | Frontiers in electronic testing |
| 서지주기 : | Includes bibliographical references and index |
| 개인저자 : | Maly, Wojciech, jt, |
| 언어 | 영어 |
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